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X熒光光譜儀XRF手持式 X熒光礦石分析儀系列是專門(mén)針對(duì)在現(xiàn)場(chǎng)、野外進(jìn)行X熒光分析應(yīng)用而設(shè)計(jì)的儀器，可充分滿足檢驗(yàn)土壤、地質(zhì)樣品、巖芯、原礦、廢棄物、精礦、尾礦的現(xiàn)場(chǎng)分析，對(duì)各類樣品進(jìn)行快速識(shí)別和成份分析鑒別

Explorer5000 手持式X射線熒光光譜儀是一種重要的分析測(cè)試工具，可以在樣品不需要被破壞的情況下，對(duì)其進(jìn)行精確的化學(xué)成分分析?？蓽?zhǔn)確檢測(cè)各種貴金屬合金、高低合金鋼、不銹鋼、工具鋼、鉻/鉬鋼、鎳合金、鉆合金/耐熱合金、鈦合金/銅合金、青銅、鋅合金等，無(wú)損檢測(cè)，1秒鐘即可知曉 材料的成分及合金牌號(hào)。還可對(duì)鋁、鎂輕合金牌號(hào)進(jìn)行快速鑒定。

EDX6000B 材料分析儀器 內(nèi)置10個(gè)樣品測(cè)試平臺(tái)，可以一次完成測(cè)試。2011年推出的高性能、臺(tái)式X熒光合金分析儀，融匯合金分析技術(shù)，配備智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測(cè)試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測(cè)效果，具有測(cè)試精度高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。

新一代X 射線熒光光譜儀EDX3800，儀器配置電子制冷的FAST -SDD半導(dǎo)體檢測(cè)器、低損耗測(cè)試光路、高功率高管壓激發(fā)光源、獨(dú)立通道散熱風(fēng)路、智能一 鍵測(cè)試模塊、大面積觸控電腦及全自動(dòng)機(jī)械臂進(jìn)樣系統(tǒng)(選配),與以往機(jī)型相比，實(shí)現(xiàn)高靈敏度、高準(zhǔn)確度、高智能化、高效率，可選擇手動(dòng)進(jìn)樣及自動(dòng)機(jī)械臂進(jìn)樣兩種模式，真正的做到了智能自動(dòng)檢測(cè)。

EDX4500HX熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元紊成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析。該儀器的主要特征是利用真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素貝有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可 對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素逬行精確分析，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率。另外，在礦石分祈、合金分析、全元紊分析、有害元紊檢測(cè)。